等離子物理學/高頻波與電磁波傳播
外觀
導論
[編輯]- 本章討論在等離子體中高頻(接近或高於等離子體頻率)的電磁波傳播、截止與共振。
- 目標:掌握冷等離子體介質的介電張量與常見波模(O/X 模、右/左旋)。
等離子體頻率與折射
[編輯]- 等離子體頻率:
- 當 時,O模在均勻等離子體中截止
冷等離子體介電張量
[編輯]- 在靜磁場 下,介電張量元素 決定傳播性質
- Appleton–Hartree 公式給出折射率 與 的關係(示意)
O/X 模
[編輯]- O模:電場與背景磁場平行分量非零
- X模:電場主要與背景磁場垂直,存在雙截止與共振層
- 在磁化介質中,O/X 模的轉換依賴密度與磁場梯度
右/左旋波
[編輯]- R/L 模與迴旋共振相關,滿足 或其諧波時發生強吸收
- 極化為圓偏振,傳播性質隨頻率與入射角改變
截止與共振層
[編輯]- 截止:,波無法傳播
- 共振:介質響應發散,發生強吸收或模式轉換
- 在非均勻介質中,用WKB近似追蹤射線穿越層位
折射與反射
[編輯]- 梯度導致波向高折射率區域彎曲
- 反射發生在 變負或遇到急變時
模式轉換
[編輯]- O-X 轉換用於電子迴旋共振加熱(ECRH)與電流驅動
- 需要匹配入射角與密度梯度,優化耦合效率
吸收機制
[編輯]- 電子迴旋吸收:
- 朗道阻尼:高速電子與相速度匹配發生無碰撞吸收
- 碰撞吸收:有限電阻性導致歐姆耗散
波導與腔體中的傳播
[編輯]- 邊界條件量化模,產生離散頻率與場型
- 品質因子 與耗散決定能量存儲與泄露
診斷應用
[編輯]- 微波干涉與反射計測密度剖面(O/X 模)
- ECE 診斷:電子迴旋輻射測溫
- Thomson 散射:高頻雷射診斷密度與溫度
數值方法
[編輯]- 求解全波方程或射線追蹤方程以獲得傳播路徑
- 介電張量頻散表用於插值折射率與吸收
常見誤區
[編輯]- 忽略磁化導致的雙模結構,把介質當作各向同性
- 在強梯度下誤用局域均勻近似
- 將截止與共振混為一談
小練習
[編輯]- 寫出等離子體頻率表達式並解釋O模截止條件
- 說明X模的雙截止與共振層的物理意義
- 討論O-X 模式轉換的關鍵控制參數
- 比較電子迴旋吸收與朗道阻尼的差異
- 設計一個反射計實驗以重建密度剖面